プライマリ
日本語
高効率液体クロマトグラフィー・アミノ酸分析計（HPLC/AAA）
分光分析機器（UV-Vis/NIR、FL）
原子吸収分光光度計（AA）
電位滴定器・カールフィッシャー水分滴定器
臨床分析器・検査システム等
統合MESソリューションCyberPlant
パネルゲージ
差圧・圧力変換器シリーズ
周辺機器
原子間力顕微鏡
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
計器計器
HINL 200 Aシリーズ演算器
Primaideアフラトキシン（ポストカラム光化学誘導体）分析システム
HINL 100 A/200 Aシリーズ信号変換器
イオン研磨計IM 4000 II
多機能走査プローブ顕微鏡AFM 100 Plus/AFM 100システム
超高分解能電界放出走査電子顕微鏡SU 8600シリーズ
レーザ加工装置
エアロゾルレーザ計数検出器Nano Quantity Analyte Detector
蛍光分光光度計F-2700
日立ZA 3000原子吸収分光光度計の革新はとどまるところを知らない
カルフィッシュクーロン自動滴定器AQ-2200シリーズ
HPLCシステムソフトウェアChromaster® System Manager
Chromaster® GPCシステム
ジョブ管理システム
プロセスデータ収集・管理システムCyberBridge
自動滴定器COM-300 A
クリーニングスキーム
正規品の消耗品
全自動生化学分析装置日立LABOSPECT 006
イオン研磨機ArBlade 5000
全自動型原子間力顕微鏡AFM 5500 M
蛍光分布イメージングシステムEEM View
電界放出透過型電子顕微鏡HF-3300
自動滴定器COM-1700/1750シリーズ
超高分解能電界放出走査電子顕微鏡Regulusシリーズ
Successful operation!
